17th IMEKO World Congress on Metrology in the 3rd Millenium, pp. 746-749, IMEKO TC-4, Dubrovnik (Croacia). 22-27 Junio 2003
Resumen:
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Palabras clave: No disponible/Not available
Fecha de publicación: junio 2003.
Cita:
Carpentieri, M., Silveira, J., Giannetti, R., A system for monitoring the spatial and intensity distribution on CCD patterns applied to in situ characterization, 17th IMEKO World Congress on Metrology in the 3rd Millenium, pp. 746-749, IMEKO TC-4, Dubrovnik (Croacia). 22-27 Junio 2003.
IIT-03-105A
