8º Congreso Español de Metrología, Lérida (España). 30 septiembre - 02 octubre 2026
Resumen:
El Centro Español de Metrología (CEM) participa en el proyecto de investigación speCTraMet del European Partnership on Metrology (EPM) Call 2025 de EURAMET. El proyecto se centra en la tomografía computarizada espectral (sCT), con el objetivo de caracterizar fantomas físicos y virtuales, cuantificar unidades Hounsfield (HU) por rangos de energía y evaluar incertidumbres asociadas. El CEM contribuye a la revisión sistemática del estado del arte sobre fantomas para sCT y a la compilación de datos de coeficientes de atenuación lineal de haces de energía, participando en la definición de requisitos metrológicos para las especificaciones de los materiales de los fantomas y en el análisis de datos de atenuación que servirán de base para la calibración de los escáneres. Además, colaborará en la evaluación de plataformas de simulación, el análisis de incertidumbre y la adaptación de modelos de inteligencia artificial (IA) basados en redes neuronales profundas, definiendo parámetros de entrada, como el sistema de imagen y las condiciones de exposición, y revisando datos de entrenamiento y validación. Su participación permitirá al CEM avanzar en la integración de criterios metrológicos en el diagnóstico por imagen.
Resumen divulgativo:
El CEM participa en el proyecto europeo speCTraMet para desarrollar bases metrológicas de la tomografía computarizada espectral. Su trabajo incluye fantomas, coeficientes de atenuación, análisis de incertidumbre e IA, contribuyendo a la calibración y fiabilidad del diagnóstico por imagen.
Palabras clave: metrología sanitaria, tomografía computarizada.
Fecha de publicación: 30-sep-2026
Cita:
A. Esteban Temprano, L. Delgado San Martín, M.A. Sáenz-Nuño, A.I. Martin Megias, T.E. Fernández-Vicente, S. Ruiz González, "Infraestructura Metrológica para la Trazabilidad en Tomografía Computarizada Espectral (sCT): Hacia una Imagen Médica, Fiable y Trazable basada en Inteligencia Artificial (IA)", presentado en 8º Congreso Español de Metrología, Lérida, España, 30 septiembre - 02 octubre 2026
IIT-26-322C